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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品分類(lèi)
探針測(cè)試臺(tái) 中測(cè)臺(tái) 點(diǎn)測(cè)機(jī) 晶體管芯電參數(shù)測(cè)試儀 集成電路芯片電參數(shù)檢測(cè)儀
型號(hào)DL19-ST-102B
DL19-ST-102B型探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Proberstation,中文又稱(chēng)中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
技 術(shù) 指 標(biāo)：
工作臺(tái)面370mm*245mm
載物臺(tái)直徑4"
光學(xué)參數(shù)總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；
精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；最小刻劃：1°；
銅盤(pán)直徑：Φ85mm；絕緣盤(pán)直徑：Φ102mm
三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定，由磁性開(kāi)關(guān)控制；
最多可布三維探針座6個(gè)；
探針臂伸出長(zhǎng)度：60mm；
探針長(zhǎng)度：40mm；
探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；
當(dāng)前位置：
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